Microanalisi  Fabbricanti, Commercianti, Fornitori

The company nanoAnalytics is an independent, private-sector service company. Since 1999 we are working for almost all industries in the field of surface, interface, and thin-film micro-area analysis.
For our work we use most modern analytical equipment. Information can be obtained about the chemical composition and morphology of your materials.
Our team has many years of practical experience. We provide you with relevant information regarding your challenges in failure analysis, quality assurance and product development. You will receive the results quickly, typically within 6 - 10 days.

FRT è uno dei fornitori leader mondiali di metrologia 3D per la R&S e la produzione di massa. Il FRT MicroProf® è affermato nei mercati del front-end dei semiconduttori, del packaging avanzato, dei MEMS, dei VCSEL, dell'automobile, dell'ingegneria meccanica, dell'ottica, dei LED e del medicale.
Una piattaforma ultra-stabile di terza generazione e un software proprietario sono il risultato di più di 25 anni di esperienza. Il concetto multisensore FRT e la tecnologia di misurazione ibrida supportano le linee di produzione in tutto il mondo. Le applicazioni sono senza contatto e completamente automatiche. I parametri di misura sono topografia, altezza del gradino, rugosità, TTV, curvatura, deformazione, tensione, spessore dello strato e dello stack, overlay e CD - e molti altri.
Diversi metodi di misurazione possono essere combinati con sensori di punti, linee e aree, così come sensori di spessore dello strato e microscopi a forza atomica in un unico dispositivo di misurazione e ricetta.
I sistemi di misurazione pluripremiati forniscono (anche in modo completamente automatico) informazioni su topografia, struttura, altezza del gradino, rugosità, usura, spessore dello strato e molti altri parametri, senza contatto e non distruttivi.
A seconda dell'applicazione, diversi metodi di misurazione con sensori di punti, linee, aree e spessori di strato, così come la microscopia a forza atomica, possono essere combinati in un dispositivo di misurazione - i campi di misurazione possono estendersi dal metro al sub-nanometro.