Ovaalheidsmetingen  Fabrikanten, distributeurs en leveranciers

For more than 20 years Lamtech Lasermesstechnik develops and produces interferometers for the from testing of parts, as well as evaluation software and customized opto-mechanical systems.
The emphasise lies on interferometers for the non-contact flatness check of technical precision surfaces. The interferometers are placed within production lines, measuring rooms as well as the 100% control.
Due to the in-house research and development, Lamtech Lasermesstechnik can easily adapt towards customer-specific measurement requirements.

LAP,
your global partner for alignment, positioning and non-contact measurement
using state-of-the-art laser technology.
LAP develops, produces and distributes line lasers, laser projectors,
laser sensors and systems for dimensional measurement.
For more than 20 years, LAP has been developing, manufacturing and distributing Laser Measurement Systems, Line Lasers and Laser Template Projectors for industrial and medical applications.
Using our Laser systems our customers improve performance and increase the quality of their products as well as the effectiveness of their processes. To achieve this goal, we offer customer specific solutions or standard systems.
As a result of continuous product innovation, LAP has become a world leader in lasers for projection and measurement. LAP products are setting the standards in a wide range of markets from manufacturing to heavy industrial environments and medical applications.

FRT is een van 's werelds toonaangevende leveranciers van 3D metrologie voor R&D en massaproductie. De FRT MicroProf® is gevestigd in de halfgeleider front-end, geavanceerde verpakking, MEMS, VCSEL, automobiel, machinebouw, optiek, LED en medische markten.
Een derde-generatie ultra-stabiel platform en eigen software zijn het resultaat van meer dan 25 jaar ervaring. Het FRT multisensorconcept en de hybride meettechnologie ondersteunen productielijnen wereldwijd. De toepassingen zijn contactloos en volledig automatisch. Meetparameters zijn topografie, staphoogte, ruwheid, TTV, kromming, vervorming, spanning, laag- en stapeldikte, overlay en CD - en nog veel meer.
Verschillende meetmethodes kunnen gecombineerd worden met punt-, lijn- en oppervlaktesensoren, evenals laagdiktesensoren en atoomkrachtmicroscopen in één meetapparaat en recept.
De meermaals bekroonde meetsystemen leveren (ook volautomatisch) informatie over topografie, structuur, staphoogte, ruwheid, slijtage, laagdikte en vele andere parameters, contactloos en niet-destructief.
Afhankelijk van de toepassing kunnen verschillende meetmethoden met punt-, lijn-, oppervlakte- en laagdikte-sensoren alsmede atoomkrachtmicroscopie in één meetapparaat worden gecombineerd - de meetbereiken kunnen zich uitstrekken van het meter- tot het sub-nanometerbereik.