Ovallik ölçümü  Üreticiler, Satıcılar, Teslimatçılar

For more than 20 years Lamtech Lasermesstechnik develops and produces interferometers for the from testing of parts, as well as evaluation software and customized opto-mechanical systems.
The emphasise lies on interferometers for the non-contact flatness check of technical precision surfaces. The interferometers are placed within production lines, measuring rooms as well as the 100% control.
Due to the in-house research and development, Lamtech Lasermesstechnik can easily adapt towards customer-specific measurement requirements.

LAP,
your global partner for alignment, positioning and non-contact measurement
using state-of-the-art laser technology.
LAP develops, produces and distributes line lasers, laser projectors,
laser sensors and systems for dimensional measurement.
For more than 20 years, LAP has been developing, manufacturing and distributing Laser Measurement Systems, Line Lasers and Laser Template Projectors for industrial and medical applications.
Using our Laser systems our customers improve performance and increase the quality of their products as well as the effectiveness of their processes. To achieve this goal, we offer customer specific solutions or standard systems.
As a result of continuous product innovation, LAP has become a world leader in lasers for projection and measurement. LAP products are setting the standards in a wide range of markets from manufacturing to heavy industrial environments and medical applications.

FRT, Ar-Ge ve seri üretim için dünyanın önde gelen 3D metroloji tedarikçilerinden biridir. FRT MicroProf® yarı iletken ön uç, gelişmiş paketleme, MEMS, VCSEL, otomotiv, makine mühendisliği, optik, LED ve medikal pazarlarında kurulmuştur.
Üçüncü nesil ultra kararlı bir platform ve tescilli yazılım, 25 yılı aşkın deneyimin sonucudur. FRT multisensör konsepti ve hibrit ölçüm teknolojisi, dünya çapındaki üretim hatlarını destekler. Uygulamalar temassız ve tam otomatiktir. Ölçüm parametreleri topografi, adım yüksekliği, pürüzlülük, TTV, eğrilik, çarpıklık, gerilim, katman ve yığın kalınlığı, bindirme ve CD - ve çok daha fazlasıdır.
Farklı ölçüm yöntemleri nokta, çizgi ve alan sensörlerinin yanı sıra katman kalınlık sensörleri ve atomik kuvvet mikroskopları ile tek bir ölçüm cihazı ve reçetede birleştirilebilir.
Çok ödüllü ölçüm sistemleri, topoğrafya, yapı, basamak yüksekliği, pürüzlülük, aşınma, katman kalınlığı ve diğer birçok parametre hakkında temassız ve tahribatsız (tam otomatik olarak) bilgi sağlar.
Uygulamaya bağlı olarak, nokta, çizgi, alan ve katman kalınlığı sensörlerinin yanı sıra atomik kuvvet mikroskobu ile farklı ölçüm yöntemleri tek bir ölçüm cihazında birleştirilebilir - ölçüm aralıkları metreden nanometre altı aralığa kadar uzanabilir.