تولیدکنندگان، عرضه‌کنندگان، توزیع‌کنندگان

Seit mehr als 20 Jahren entwickelt und fertigt die Lamtech Lasermesstechnik Interferometer zur Formprüfung sowie Auswertesoftware und kundenspezifische opto-mechanische Systeme.
Ein Schwerpunkt sind Interferometer für die berührungslose Ebenheitsmessung von technischen Präzisionsflächen, die in der Fertigungslinie, in Messräumen und auch in der 100% Kontrolle eingesetzt werden.
Durch die Entwicklung im eigenen Haus kann auf kundenspezifische Messaufgaben flexibel eingegangen werden.

LAP,
Ihr globaler Partner für Lasersysteme zum Messen und Projizieren.
LAP entwickelt, fertigt und vertreibt Linienlaser, Laserprojektoren und Lasermesstechnik vom Sensor bis zur schlüsselfertigen Messanlage.
LAP entwickelt, produziert und liefert seit mehr als 20 Jahren Lasermesssysteme, Linienlaser und Laserprojektoren für Industrie, Handwerk und Medizin.
Unsere Kunden nutzen unsere laserbasierten Systeme, um die Qualität ihrer Produkte und Leistungen zu verbessern und die Effektivität ihrer Produktionsprozesse zu erhöhen. Wir bieten Standardkomponenten und kundenspezifische Lösungen an. Sowohl Komponenten als auch komplexe Systeme können nach Kundenvorgaben entwickelt, und produziert werden.
Mit Linienlasern und Laserprojektoren zum Ausrichten und Positionieren in Industrie und Handwerk nimmt LAP in Europa eine der führenden Positionen ein.
In der Stahlindustrie ist LAP einer der führenden Anbieter für Lasermesssysteme.
Im Bereich Strahlentherapie, Nuklearmedizin und der radiologischen Diagnostik setzen Lasersysteme von LAP für die Patientenpositionierung weltweit den Maßstab.

FRT is one of the world's leading suppliers of 3D metrology for R&D and mass production. The FRT MicroProf® is established in the semiconductor front-end, advanced packaging, MEMS, VCSEL, automotive, mechanical engineering, optics, LED and medical markets.
A third-generation ultra-stable platform and proprietary software are the result of more than 25 years of experience. The FRT multisensor concept and hybrid measurement technology support production lines worldwide. The applications are non-contact and fully automatic. Measurement parameters are topography, step height, roughness, TTV, curvature, warpage, tension, layer and stack thickness, overlay and CD - and many more.
Different measuring methods can be combined with point, line and area sensors as well as layer thickness sensors and atomic force microscopes in one measuring device and recipe.
The multi-award-winning measuring systems provide (also fully automatically) information on topography, structure, step height, roughness, wear, layer thickness and many other parameters, non-contact and non-destructive.
Depending on the application, different measuring methods with point, line, area and layer thickness sensors as well as atomic force microscopy can be combined in one measuring device - the measuring ranges can extend from the metre to the sub-nanometre range.